Y.Q. Zhu, H. Qian, L.F. Wang, L. Wang*, J.Y. Tang, Measurement and analysis of substrate leakage current of RF mems capacitive switches, Microelectronics Reliability, 54 152-159(2014)
作者:Y.Q. Zhu, H. Qian, L.F. Wang, L. Wang*, J.Y. Tang 发表日期:2014-02-03

Y.Q. Zhu, H. Qian, L.F. Wang, L. Wang*, J.Y. Tang,

Measurement and analysis of substrate leakage current of RF mems capacitive switches,

Microelectronics Reliability, 54 152-159(2014), SCI

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